闪烁性能综合测量系统-仪器详情

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闪烁性能综合测量系统

型号:ROHT 50/200/18

测试项目:

闪烁性能综合测量系统是基于核物理快电子学技术的闪烁材料多参数获取系统;可对包括闪烁材料的光输出、亚纳秒闪烁衰减动力学(衰减时间)参数进行精确测量。仪器采用运行于WinXPWin7系统下的视窗界面软件控制和收集数据、采用基于大数据专用分析软件PAW的程序离线对所获数据进行详细分析。该系统可对低至4 p.e./ MeV (光电子/兆电子伏特)闪烁发光和500皮秒以上的衰减时间进行精确测量。

技术指标

一、光输出参数测量指标

最小光输出:4p.e./MeV (~30photons/MeV) 

最大光输出:不限

光输出测量的系统误差:< 1% (BGOLYSO)。

温度稳定性:0.01%/o050oC

二、亚纳秒闪烁衰减动力学参数测量指标

采用单一能量伽马粒子为激发源(例如Cs137 662KeV伽马粒子);

闪烁动力学测量范围:500ps ~ 5us;

闪烁动力学测量精度:±3 % LYSO, BGO.


样品要求:

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