聚焦离子束扫描电镜(FIB制样/FIB+SEM/FIB+TEM/FIB+球差)-仪器详情

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样品要求:

1无挥发性固体块体长宽最好小于20mm,高度小于4mm。

2样品要求导电性良好,如果导电性比较差的话需要进行喷金或喷碳处理。

3、透射样品制备只保证切出的样品厚度可以拍透射。

4、fib+TEM、剖面分析,可选择按时间云视频拍摄,实时观看。(推荐)

5、定位会采用视频或者发照片的形式让您确定,一但确定好,后续切样发现内部结构不符合预期(比如样品内部有洞,膜层分离等情况)不再进一步制样了,此位置也需要按5折收费,定位请慎重选择

 

聚焦离子束扫描电镜(FIB制样/FIB+SEM/FIB+TEM/FIB+球差)

型号:ZEISS Crossbeam 540;Helios G4 PFIB HXe;Helios 600i

测试项目:

用途及功能:

1.定点剖面形貌和成分表征 

2. TEM样品制备 

3. 微纳结构加工 

4.  芯片线路修改

5.切片式三维重构

6.材料转移 

7.三维原子探针样品制备

适用领域

结构分析、材料表征、芯片修补、生物检测、三维重构、材料转移等,该系统可适用于横截面和断层扫描,3D分析,TEM样品制备及纳米图形加工;


样品要求:

1无磁性、无挥发性,固体、块体尺寸最好小于80mm(快速进样最大尺寸)

2样品要求导电性良好,如果导电性比较差的话需要进行喷金或喷碳处理


常见问题及回答:
结果展示:

1、图案加工

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2、TEM样品制备

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3、定点剖面分析

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4、三维重构

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我们的优势

研鹿检测,伴您研发之路,为您提供无需CMA/CNAS认证的研发过程检测。

1折价格

不做CMA/CNAS认证资质,能够满足研发过程测试需求,价格远低于市面主流认证机构测试服务。

专业·高效

850+合作单位,每台合作设备都有经验丰富的专业测试老师操作,保证测试过程专业、结果准确。

绝对保密

测试信息及结果不泄露,可先签保密协议后服务。

服务无忧

项目经理全部拥有硕士以上学历学位,精准对接

服务流程

1.明确需求

专业客服,确认您的样品需求和数量

2.线上下单

方便快捷
企业会员更优惠

3.样品寄送

下载打印预约单,与样品一并寄送

6.售后支持

一对一客服,全程跟进售后服务

5.提供结果

线上下载实验结果,实验结果长期保存

4.进行测试

每台设备人工核验有专业老师测试

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