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双波段发射率测量仪-仪器详情

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仪器是点源测试（即一个点测出一个数据），非全扫描，每样品正常测9次计算得到平均值，仅提供平均值。

目前不能接粉末样品。

块体：圆形样品直径2--4.4cm的片，方形样品边长2~3.1 cm（尽量接近3.1cm），厚度最好1mm以上，太薄会透射，表面不要太粗糙

有基底的薄膜样品，薄膜厚度最好10微米以上，太薄了测试基本上不准确

如有疑问或尺寸相差太大，请提前联系项目经理！

双波段发射率测量仪

型号：IR-2

测试项目：

双波段发射率

样品要求：

仪器是点源测试（即一个点测出一个数据），非全扫描，每样品正常测9次计算得到平均值，

块体：样品直径3.5--4.8cm的片，厚最好1mm以上，太薄会透射，表面不要太粗糙

有基底的薄膜样品，薄膜厚度最好10微米以上，太薄了测试基本上不准确

粉末5g，不建议用粉末测试，误差较大。


常见问题及回答：
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项目经理全部拥有硕士以上学历学位，精准对接

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